透射电镜，即透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM），是指利用透射电子显微镜进行相应的样品测试，得到所需的透射电镜分析测试信息，实现样品成分、含量和谱图表征数据的测定，观察纳米粒子的形貌、评估纳米粒子的粒径。