X射线光电子能谱仪(XPS)+饿歇电子能谱仪(AES)_深圳市标研检测技术有限公司

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产品展示

X射线光电子能谱仪(XPS)+饿歇电子能谱仪(AES)添加时间：2016/12/2 18:06:39

产品详情

XPS利用光电效应的原理，测量X射线激发出的光电子能量和计数，对样品表面几个纳米深度的范围内进行半定量的成分和化学态分析；AES利用电子激发出的俄歇电子，对表面进行微区的成分和化学态分析。

测试范围：

除H和He之外的所有元素

分析深度约5nm(AES约3nm)

检测下限约0.1%

空间分辨率约30μm(AES约10nm)

服务项目：

各种固体表面的元素成分

化学价态

分子结构分析

深度剖析